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共搜索到5篇文章
2006-12-07 用JTAG边界扫描测试电路板、BGA和互连
对于BGA器件的测试,采用传统的检测方法很难实现。本文介绍了一种通过JTAG边界扫描测试BGA器件的方法。文章描述了通过IEEE1149.1 JTAG接口进行边界扫描的测试过程,如何获得引脚的状态信息,以及这种测试方法的特点和优势,并介绍了市场上现有的JTAG调试工具类型。
2006-06-19 满足的嵌入式系统电路特性测试需求的JTAG技术
EEE 1149.1边界扫描测试标准是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法,大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准。为了更好地理解这种方法,本文将探讨在不同年代的系统开发与设计中是如何使用JTAG的,通过借助过去有关JTAG接入的经验或投入,推动设计向新一代发展。
2005-05-08 在通用CPU芯片中采用DFT技术的前沿课题
可测试性设计技术(DFT)在当前集成电路设计中已经获得广泛使用,它能够提高信号的可控制性和可观察性。该技术在原有设计中插入额外的逻辑,这些逻辑在测试模式下运行并不对功能造成任何影响。如何让所有这些测试逻辑都能和谐工作,并在较少面积和较低性能开销条件下获得较高故障覆盖率,对DFT来说是两大主要问题。本文通过基于通用CPU芯片的设计,包括存储器内建自测试(BIST)、内部扫描设计、逻辑电路BIST、与IEEE Std.1149.1(JTAG)兼容的边界扫描设计,以其这些技术之间的相互关联,我们探讨了DFT技术的一些前沿课题,其中包括存储器BIST、扫描设计、逻辑BIST和BSD。这些概念已经在通用CPU芯片上得到实现且在实践中并获得了成功。
2004-08-01 采用边界扫描法测试系统级芯片互连的信号完整性
互连中的信号完整性损耗对于数千兆赫兹高度复杂的SoC来说是非常关键的问题,因此经常在设计和测试中采用一些特殊的方法来解决这样的问题。
2002-05-09 结构性系统测试
本应用指南讨论了一种结构性系统测试协议及命令集,适用于芯片和板级的内置测试。
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