电子工程专辑
UBM China

顶尖分析服务商-胜科纳米将参展IIC 2014

上网日期: 2014年08月14日 ?? 我来评论 字号:放大 | 缩小 分享到:sina weibo tencent weibo tencent weibo


打开微信“扫一扫”,打开网页后点击屏幕右上角分享按钮

1.扫描左侧二维码
2.点击右上角的分享按钮
3.选择分享给朋友

关键字:IIC-China 2014? IIC 2014? IIC 2014展会?

IIC 2014将在今年9月2日至9月5日在深圳会展中心盛大召开。顶尖的独立第三方实验室胜科纳米也会在现场开设展会与观众交流。胜科纳米专业于为产品、项目的设计、生产提供专业快捷的分析报告;拥有开放的专业分析平台及高水平的实验室设备,如:高分辨透射电镜(HR-TEM), 双束聚焦离子束(Dual Beam FIB),场发射扫描电镜(FE-SEM),飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS),动态二次离子质谱仪(D-SIMS),X射线光电子能谱仪(XPS/ESCA)等。

在IIC 2014上,观众可以了解到以下的新技术:

电性分析:Decap, X-ray, C-SAM, TDR, Thermal imaging, EMMI, OBIRCH, TIVA, Micro-probe, C-AFM, AFP;

物性分析:Delayer, RIE, SEM, DB-FB, HR-TEM, Ion Miling, EBSD;

材料分析:EDX, FTIR, TXRF, TOF-SIMS, D-SIMS, XPS, Auger, AFM, ICP-MS, XRD, XRF

静电测试:HBM/MM, Latch up, TLP

胜科纳米同时可以向客户提供完整的分析方案,帮助客户找到失效的根本原因。

(电子工程专辑)

这些新产品将可以应用于芯片设计, 晶圆厂,封装厂,面板厂,硬盘,电子元器件,LED,太阳能,生物纳米,纳米科技,设备厂,国防工业。

就2014市场热点,胜科纳米表示,随着目前半导体相关产业的设计及工艺不断发展,相关的结构及材料分析将趋向于更高端更精密的分析领域发展。同时第三方分析实验室在提供单项分析服务的同时,需要不断增强其提供全方位、全套分析服务及相关设计方案的能力。

在IIC 现场,您将可以与胜科纳米的市场总监-傅超,技术运营总监-华佑南面对面交流!马上报名吧!