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怎样才是最有效的IC故障诊断和失效分析

上网日期: 2013年09月11日 ?? 作者: Bill Laumeister ?? 我来评论 字号:放大 | 缩小 分享到:sina weibo tencent weibo tencent weibo


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关键字:IC故障诊断? 失效分析? 低阻抗连接?

摘要:对一个复杂的设备进行故障诊断的时候,知识储备是最重要的。我们想要的并且需要去了解相关的一些问题。它包括正确的IC版本号,在哪里可以找到有关的参考资料,谁真正了解客户端发生了什么。帮助客户是我们最主要的关心的,IC的失效分析要求快速而正确的作出响应。但是我们是否应该期望在失效分析的时候,质量保证部可以测试所有条件下的每一个参数呢?不,根本不可能,也来不及。大多数是猜测分析。这可能会引起一些人的吃惊,但质量部门的人也是没有水晶球或者是读心术的。及时有效的IC故障诊断的唯一可能性是从客户端得到关于IC失效的正确信息。

IC的失效分析——它是在浪费时间

我们经常听到“观念是现实的。”当IC失效的时候或客户认为它失效了,我们必须做一个失效分析。为了更有效,我们必须得到准确的相关信息。这是避免猜测的唯一出路。让我讲述一个发生在很久以前的小插曲。一个器件由于失效被退回来,我们没有得到任何相关信息。我们对这个器件做了一系列验证,例如运行自动测试设备,台架试验,X光检查,及开盖检查。我们把这个器件浸在软性电子的环境中,放在电子显微镜下观察观察损坏的地方。我们使用液晶涂层来测量温度。这个器件是完好的。我们没发现任何的失效原因。因此质量部在报告中就写了,我们想知道为什么这个器件由于失效被退回来?

大约两个月后,我们几乎是偶然间了解到,当这个器件被加热到+60℃以上,客户的产品会失效。我们再一次做了失效分析。我们在室温下(+25℃)测试这个器件,什么都没发现。当这个器件在测试中被毁坏后,它不再有任何的功能。最终,这是一次返回事件,它没有再次发生。但这里有更重要的教训:没有关键失效数据,我们只能是个盲人,也只能乱加猜测。我们浪费了大量的时间和金钱。(参见附录—IC失效分析在国内的另一个更个人化的古董车故事,接地问题与另一个失效的IC。)

下一页:彻底的测试对QA来说是徒劳的


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