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罗德与施瓦茨与Atmel共同开发R&S TS-PHDT测试系统

上网日期: 2007年09月13日 ?? 我来评论 字号:放大 | 缩小 分享到:sina weibo tencent weibo tencent weibo


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关键字:测试?

罗德与施瓦茨公司和Atmel的射频与汽车业务部日前紧密合作共同开发R&S TS-PHDT,是专为电子组件日趋复杂的数字电路的功能测试而设计的。另外,测试与测量仪器也必须满足当前技术对记忆深度、实时性以及等级编程的需求。而R&S TS-PHDT则是市场上第一款基于PXI的满足此类应用的解决方案。

R&S TS-PHDT 是一款非常小巧的高速数字测试模块;它仅仅占用R&S CompactTSVP平台的一个插槽。通过软面板以及DLL格式的驱动,就可以对它进行操作。测试平台与该模块的接口则是PCI总线。其PXI触发功能使得它可以同步到其他R&S TS-PHDT 模块以及罗德与施瓦茨公司或者其他公司的基于PXI的测量或激励模块,这样可以很容易地扩展其数字通道的个数,从而满足对模拟和数字信号的其它测试需求。






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