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结合IP与软件,新创公司应对IC可变性特征化问题

上网日期: 2006年04月19日 ?? 作者: Richard Goering ?? 我来评论 字号:放大 | 缩小 分享到:sina weibo tencent weibo tencent weibo


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关键字:IC可变性特征化? variability characterization? 测试结构? IP?

无数可制造性设计(DFM)新创企业承诺将帮助设计师最大化良品率,并控制工艺可变性,但所有起点都取决于代工厂提供统计参数特征化的能力。新创公司Stratosphere Solutions推出能在硅晶圆内插入测试结构的IP,解决了这一问题。

Stratosphere Solutions由首席技术官Jim Bordelon和首席战略官Prashant Maniar创立于2004年。“我们公司的重点是解决参数可变性问题,”Maniar表示。“我们关注的是裸片内的变化—-放置到裸片两个不同部位的晶体管由于接近效应、掺杂波动或线边缘粗糙度,操作有何不同?”

Maniar指出,其它DFM和面向良品率设计(DFY)公司着重于光刻仿真或模拟化学机械抛光。“它们遗漏了成功必不可少的数据类型。”

Stratosphere Solutions将推出的StratoPro是IP和软件的合成产品,嵌入了代工厂用于描述工艺可变性的测试结构。该公司还计划年底推出良品率建模环境,允许代工厂为设计师提供全面的良品率模型,无需泄露商业秘密。

StratoPro已可供应,起价35万美元。






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