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Mentor嵌入式压缩方案助联电增强制造测试能力

上网日期: 2005年03月31日 ?? 我来评论 字号:放大 | 缩小 分享到:sina weibo tencent weibo tencent weibo


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关键字:明导资讯? Mentor Graphics? TestKompress? EDT?

Mentor Graphics日前宣布,其TestKompress嵌入式决定性测试(EDT)工具已获得联电(UMC)采用,这家晶圆厂将把该工具用于他们的90和130纳米参考流程。相较于其它测试工具,TestKompress可大幅缩短测试时间,能帮助使用者提高复杂器件的测试覆盖率和测试质量,又不会造成测试时间和测试成本的增加。

“TestKompress已证明能在合理成本下提供良好的复杂器件件测试性能。”联电设计支持部门部长刘康懋表示,“我们致力为客户提供最好的硅芯片研发服务和设计方法,TestKompress在这方面符合要求,我们很高兴把它提供给使用我们130和90纳米流程的客户。”

根据联电测试结果,TestKompress可以将测试时间和数据量减少到1/80,测试覆盖率更高达99%。这套工具提供嵌入式压缩技术的高测试质量和低测试成本等优点,对于测试方法和设计作业几乎没有任何影响。它还能加入任何扫描式(scan-based)设计流程,并且提供极佳的未知状态容忍能力(x-state tolerance),工程师不必另外增加逻辑电路或受限于测试结构带来的严苛设计要求。除此之外,随着工艺技术日益精密,与组件工作速度有关的瑕疵也会出现,TestKompress的全速(at-speed)测试能力可以侦测出这方面的问题。







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