电子工程专辑互动社区>自由讨论>测试与生产专区>集成电路测试方法

推荐到其他讨论区,赢取4积分

查看网友推荐

作者 问题:

集成电路测试方法

发布时间:2008-6-20 下午1:33

作者: multimediachip

等级: 白银大侠

积分: 2980分

发帖数: 10次

网站总积分: 2992分

经验值: 31.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭

在传统的IC设计中,每一个电路的设计几乎都是从零开始,所谓的复用也仅仅局限于标准单元库中的基本逻辑门。这种设计风格正在逐渐被一种新的设计风格所取代,即所谓的基于IP设计的方法。这些被称为IP核的内核可能是规模巨大的,例如CPUDSPMemory等;也可能是规模比较小的,例如TAPLFSR等。基于IP核的设计方法将IC设计领域划分为两大阵营:IP核的提供商和使用IP核进行系统芯片设计的芯片设计商[47]

由于产品开发周期越来越短,系统芯片的规模越来越大,系统结构也越来越复杂,芯片的来源也很广泛,造成了系统芯片测试的巨大困难。巨大的系统芯片,包含有大量的嵌入式内核,所以经常需要大量的测试向量,这就意味着更长的测试时间和更大的测试开销。为了缩短测试时间和降低测试费用,无论是内核提供商还是系统芯片集成工作者,都迫切希望能有一套行之有效的DFT技术。

鉴于这样的背景,我们从IP核级(模块级)和芯片级的角度对集成电路设计中的一些DFT热点问题进行了探讨。

本文首先简单的介绍了系统芯片测试领域最常用到的一些基本概念,包括系统芯片和IP核、常用的DFT实现手段、边界扫描技术、BIST技术、自动测试设备(ATE)、测试调度等,为后续的章节做了一些铺垫。

边界扫描技术有着广泛的应用,它不仅支持板级互连测试和系统级互连测试,也可以为芯片内部的可测试性电路提供测试访问通路。本文从边界扫描的众多协议入手,说明了如何利用边界扫描技术实现芯片级和模块级的互连测试。特别是在采用电容耦合和高速数字技术的情况下,应该采用什么标准。由于目前的芯片将是以后的IP核,所以这些边界扫描单元将集成在以后的集成电路内部,可以用于模块之间的互连测试,也可以用作本模块之下模块测试的访问通路。

全扫描和部分扫描技术是目前DFT技术的主流技术,为了更有效地进行IP核内部的DFT设计,本文探讨了在实际设计过程中出现的扫描链的构造问题和提高故障覆盖率的办法,并使用Synopsys公司的DFT工具实现了一个图像处理芯片的DFT功能。

随着设备的小型化和低功耗要求的不断升温,无论是IP核内部还是用户自定义逻辑的设计,DFT低功耗技术都是目前研究的热点。本文总结了当今最先进的设计思想,阐述了如何实现基于扫描技术设计的低功耗DFT方法和基于非扫描技术设计的低功耗DFT方法。

附件:
DFT.rar 下载次数: ?2751 资源分:?10
???标签: 资料下载
引用 回复 鲜花 ( 75) 臭鸡蛋 ( 2) 有新回复时发送邮件通知
第46楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2008-8-26 下午10:16

作者: highly

等级: 初入江湖

积分: 4分

发帖数: 29次

网站总积分: 19分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
学习学习,谢啦

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第47楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2008-9-17 下午8:03

作者: nana1986

等级: 初入江湖

积分: 138分

发帖数: 14次

网站总积分: 141分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
可测性设计(DFT)和BIST是什么关系啊,BIST是一种DFT方法,还是二者并列的?

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第48楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2008-9-17 下午8:07

作者: nana1986

等级: 初入江湖

积分: 138分

发帖数: 14次

网站总积分: 141分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
目前存储器测试,CPU测试主要用的是什么方法?

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第49楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2008-9-27 下午5:24

作者: jasonnoki

等级: 遁门入道

积分: 316分

发帖数: 120次

网站总积分: 321分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
不錯哦,謝謝分享哈

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第50楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2008-9-29 上午11:12

作者: Quality Sir

等级: 初入江湖

积分: 120分

发帖数: 8次

网站总积分: 120分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
multimediachip,thank you for your participation.

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第51楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2008-12-28 下午8:39

作者: 1230467780757

等级: 初入江湖

积分: 102分

发帖数: 1次

网站总积分: 102分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
xiexie

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第52楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2009-2-16 下午1:05

作者: 新老狼

等级: 学有小成

积分: 468分

发帖数: 135次

网站总积分: 661分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
欢迎楼主继续上传测试方面的技术资料

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第53楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2009-2-16 下午1:05

作者: 新老狼

等级: 学有小成

积分: 468分

发帖数: 135次

网站总积分: 661分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
欢迎楼主继续上传测试方面的技术资料

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第54楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2009-10-27 下午4:23

作者: shenhaocn

等级: 初入江湖

积分: 135分

发帖数: 3次

网站总积分: 135分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
不错的资料!!

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第55楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2009-10-28 下午1:05

作者: 1e432123

等级: 初入江湖

积分: 92分

发帖数: 1次

网站总积分: 92分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
好东西,学习

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第56楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2009-11-11 下午6:35

作者: 1257935276206

等级: 初入江湖

积分: 94分

发帖数: 2次

网站总积分: 95分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
我不能下 想哭!!!!!!!!!

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第57楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2009-11-11 下午6:35

作者: 1257935276206

等级: 初入江湖

积分: 94分

发帖数: 2次

网站总积分: 95分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
我不能下 想哭!!!!!!!!!

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第58楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2009-11-15 下午9:27

作者: zhangxiaoshen

等级: 初入江湖

积分: 89分

发帖数: 37次

网站总积分: 105分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
好东西,学习了,谢谢楼主

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第59楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2009-12-7 下午1:31

作者: milkcoffee

等级: 初入江湖

积分: 108分

发帖数: 6次

网站总积分: 108分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
支持一下,好东西

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)
第60楼 回复主题:集成电路测试方法 发布时间:2009-12-14 下午9:52

作者: 1260798670592

等级: 初入江湖

积分: 92分

发帖数: 1次

网站总积分: 92分

经验值: 0.0

查看用户的所有发言

查看用户的个人e空间

需要确认注册邮箱后才能下载,立即确认我的邮箱
回复后可下载附件 关闭
真的很不错的资料,支持加精

引用 回复 鲜花 ( 0) 臭鸡蛋 ( 0)

与?资料下载?相关的话题
?
快速回复
用户名:?
美国的游客?????? (您将以游客身份发表,请登陆 | 注册 ) ?
标题: * 你还可以输入80
评论: * 你还可以输入10000
分享到: 新浪微博?? qq空间?? qq微博?? 人人网?? 百度搜藏??
验证码: ?*?
维护专业、整洁的论坛环境需要您的参与,请及时举报违规帖子,如果举报属实,我们将给予相应的积分奖励。
谢谢您的热心参与!
返回测试与生产专区 | 返回自由讨论
本论坛仅陈述专家或个人观点,并不代表电子工程专辑网站立场。
返回论坛页首
有问题请反馈